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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe

2A Current Rating Test Probe

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Lugar de origen:

Porcelana

Nombre de la marca:

WINNER

Certificación:

ISO9100

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing
Detalles del producto
Nombre del producto:
sonda de prueba de resorte
barril:
PB, chapado en oro
Émbolo inferior:
BeCu/SK4, chapado en oro
Émbolo superior:
SK4(Be Cu)/chapado en oro
PRIMAVERA:
SWPB(SUS)/chapado en oro
Disponibilidad:
Tamaños personalizados disponibles
Revestimiento:
Chapado en oro
Clasificación actual:
2a
Resistencia de contacto:
100 mohmios máximo
Ancho de banda:
-0,44 dB a 19,6 GHz
inductancia:
1,36 nH
captación:
1,76pF
Golpe completo:
1,8 mm
Trazo nominal:
1,8 mm
Fuerza de resorte:
40 gramos @ 1,8 mm
La vida mecánica excede:
200K
Resaltar:

Gold Plated Spring Test Probe

,

2A Current Rating Test Probe

,

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Pago y términos de envío
Cantidad de orden mínima
3000pcs
Precio
999
Detalles de empaquetado
Empaque neutrial o con logotipo OEM
Tiempo de entrega
5-8 días laborables
Condiciones de pago
LC, Unión Occidental, T/T
Capacidad de la fuente
100000 rollos por mes
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Descripción de producto
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DB81-01C0
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 0
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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 2
Detailed Component Illustration
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 4
Our probe manufacturing facility
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 5
Quality control inspection
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 6
Packaged probes ready for shipment
Etiquetas：

Electrónica de alambre de tungsteno recubierto de oro

I+D de alambre de tungsteno de 0

01 mm

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