Name: Proba de prueba de resorte de precisión ultrafina recubierta de oro con estilos de punta personalizables para pruebas BGA y aplicaciones de semiconductores
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

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Proba de prueba de resorte de precisión ultrafina recubierta de oro con estilos de punta personalizables para pruebas BGA y aplicaciones de semiconductores

Sonda de prueba de resorte chapada en oro

Probe de ensayo BGA de precisión ultrafina

Estilos de punta personalizables Pin de prueba de semiconductores

Lugar de origen:

Porcelana

Nombre de la marca:

WINNER

Certificación:

ISO9100

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Proba de prueba de resorte de precisión ultrafina recubierta de oro con estilos de punta personalizables para pruebas BGA y aplicaciones de semiconductores

Detalles del producto

Nombre del producto:

sonda de prueba de resorte

barril:

PB, chapado en oro

Émbolo inferior:

BeCu/SK4, chapado en oro

Émbolo superior:

Aleación de paladio/sin chapado

PRIMAVERA:

SWPB(SUS)/chapado en oro

Disponibilidad:

Tamaños personalizados disponibles

Revestimiento:

Chapado en oro

Clasificación actual:

Resistencia de contacto:

100 mohmios máximo

Ancho de banda:

-0,17 dB a 19,6 GHz

inductancia:

1,25 nH

captación:

1,61pF

Golpe completo:

1.00 mm

Trazo nominal:

0,65 mm

Fuerza de resorte:

30 gramos a 0,65 mm

La vida mecánica excede:

200K

Resaltar:

Sonda de prueba de resorte chapada en oro

Probe de ensayo BGA de precisión ultrafina

Estilos de punta personalizables Pin de prueba de semiconductores

Pago y términos de envío

Cantidad de orden mínima

3000pcs

Precio

999

Detalles de empaquetado

Empaque neutrial o con logotipo OEM

Tiempo de entrega

5-8 días laborables

Condiciones de pago

LC, Unión Occidental, T/T

Capacidad de la fuente

100000 rollos por mes

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Descripción de producto

Probas de ensayo BGA de alta eficiencia

"Técnicas de ensayo" para la obtención de datos de las máquinas de ensayo de alta precisión.

Características clave del producto

Precisión ultrafina:0.11 mm de émbolo y 0.15 mm de cañón para micro-tiro de las almohadillas de PCB, los cables de IC, los circuitos flexibles y pruebas de semiconductores
Revestimiento de oro de alta conductividad:El émbolo y el cañón recubiertos de oro garantizan una baja resistencia al contacto y una transmisión estable de la señal
Estilos de punta múltiples:Disponible en punta B (60° cono), punta U, punta D y geometrías totalmente personalizadas
Estructura de resorte duradera:El resorte de acero inoxidable (material SUS) proporciona un curso de trabajo estable y una fuerza de contacto confiable
Fabricación a medida:OEM / ODM aceptado con entrega rápida de nuestra fábrica

Especificaciones de producción

Imágenes del producto

Ilustración detallada de los componentes

Comparación de los diferentes tipos y configuraciones de puntas de las sondas de ensayo

Opciones de personalización

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. ofrece una amplia personalización para nuestras sondas de prueba de resorte de barril de latón de acero inoxidable:

Diámetros personalizados para satisfacer sus necesidades específicas
espesores de revestimiento personalizados para una conductividad y durabilidad óptimas
Especificaciones mecánicas personalizadas adaptadas a su aplicación

Todos los productos incluyen documentación de trazabilidad de materiales y certificado de análisis para garantizar la calidad.

Proceso de fabricación

Nuestra planta de fabricación de sondas

Inspección de control de calidad

Las sondas envasadas listas para el envío

Etiquetas：

Proba de prueba de resorte de precisión ultrafina recubierta de oro con estilos de punta personalizables para pruebas BGA y aplicaciones de semiconductores

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